（莱森光学）公司总部位于美国佛罗里达州，是一家提供光机电一体化集成解决方案的高科技公司，我们专注于光谱传感和光电应用系统的研发、生产和销售。为了更好地服务不断增长的亚洲市场，2016年在中国深圳成立了新的研发中心莱森光学（深圳）有限公司。LISEN OPTICS INC.（莱森光学）以掌握核心技术和战略驱动创新作为公司的发展思路，经过全体员工的不断努力，公司先后获得了深圳市*和国家*认定，并通过了国家CNAS实验室认证、*贯标体系认证、ISO9001质量管理体系认证和深圳市双软企业认证等资质。公司自成立以来，一直致力于为科研及工业用户提供具有性*技术的光谱传感和光电应用系统，目前已为众多光学领域的客户设计并提供多种用途的基于3D-SENSING脉冲激光测试方案，此外我们还具备极其丰富的定制经验，以满足不同用户的多样化需求。目前，我们的产品已广泛应用于物理学、化学、生物制药、能源环境、半导体制造和食品加工等领域。
LiSpec-NIR系列近红外光谱仪是莱森光学（LiSen Optics）红外光谱仪系列中的明星产品。该系列红外光谱仪采用256/512像元InGaAs探测器，探测器带二级半导体热电致冷，大大提高了近红外光谱仪灵敏度和信噪比。同时LiSpec-NIR系列近红外光谱仪采用了的大数值孔径光学平台设计、降噪低噪声电路控制技术，极大的提高了光谱仪测试的动...
LiSpec-NIR系列近红外光谱仪是莱森光学（LiSen Optics）红外光谱仪系列中的明星产品。该系列红外光谱仪采用256/512像元InGaAs探测器，探测器带二级半导体热电致冷，大大提高了近红外光谱仪灵敏度和信噪比。同时LiSpec-NIR系列近红外光谱仪采用了的大数值孔径光学平台设计、降噪低噪声电路控制技术，极大的提高了光谱仪测试的动态范围，LiSpec-NIR系列近红外光谱仪具有紧凑型的光路与结构设计，体积小巧轻薄，且配置灵活多样，非常适合用于实验室方案搭建和工业系统集成。
LiSpec-NIR系列近红外光谱仪采用了可更换狭缝设计，光谱范围900-1700nm，一台光谱仪可以配置多种不同宽度的狭缝以满足不同分辨率和灵敏度的光谱测量需求，拓展了应用需求，如果蔬的新鲜度和糖分检测、油料的成分分析、制药成分分析和过程监测、材料筛选和质量控制等。因其结构紧凑、具有优异的一致性、良好的热稳定性、可靠性及杂散光低的特点，最短积分时间可达10微妙高速测量，支持USB和RS-232通信，抗干扰性能强，非常适合于工业过程控制、石油化工、食品分拣、生物制药和生命科学等领域。
LiSpecView全功能光谱测试软件，提供透反射、辐射、拉曼、吸光度、激光功率、颜色测量等多种功能测量
拉曼测量系统主要由光谱仪、激光器、拉曼探头、拉曼识别光谱分析软件等组成，拉曼散射主要为斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射强得多，拉曼光谱仪通常测定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光谱仪有532/785/1064拉曼光谱仪，拉曼测量相对荧光信号会更弱一个数量级，通常我们在针对微弱拉曼信号测量我们要进行表面拉曼增强（SERS）的方法来提高拉曼信号SERS。
莱森光学的光纤光谱仪因其的灵敏度和高信噪比的特点，可以搭配激光器、拉曼探头等配件，进行对微弱光谱信号的拉曼测量应用，广泛应用于食品安全、化学实验室、生物及医学等光学方面领域，研究物质成分的判定与确认；还可以应用于刑侦中对的检测及珠宝行业的宝石鉴定。
辐射光能量可以量化为辐射通量，即一种表征从光源发出的每秒辐射能量（W）的度量标准。辐射测量一般要通过已知光谱能量分布的标准光源，对光谱仪系统进行辐射标定，才能通过量化参数进行辐射测量。辐射能量与人眼视觉相关联（光度学），就可以得到按照CIE中所定义的表征观测者平均视觉的光谱发光效率函数。因此辐射测量定义辐射度学参数、光度学参数、色度学参数。辐射度学参数主要以辐照度μW/cm2、辐亮度Watt/sr、辐射通量Watt以及光子数Mol/s/m2，Mol/m2，Mol/s和Mol，光度学参数流明Lumens、光照度Lux、光强度Candela，色度学参数X，Y，Z，x，y，z，u，v，色温、CRI显色指数等。
光谱仪测量吸光度的方法是将某一波长的平行光通过一块平面平行物体，对透过物体的光束进行检测。由于一部分能量被样品中的分子吸收，检测的入射光的强度要高于透过样品的光强。吸光度被广泛运用于液体和气体的光谱测量技术中，可以对物质进行定量鉴别或指纹认证等，还可以将该应用集成到工业应用环境和客户所关注的测试中。
使用莱森光学模块化光谱仪，可针对特定的吸光度测量来选择不同波长范围和分辨率的光谱仪，并且能在实验室或者现场，对整套光学测量装置进行快速配置。可以基于莱森光学优质的光谱仪，选择紫外光源、不同光程气室、吸收池、特定吸收光路模块、光纤探头进行灵活易用的搭配，针对不同的吸光度试验搭配出多种配置选择。
薄膜测量系统是基于白光干涉原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜，若已知薄膜介质的n和k值即可计算出它的物理厚度。测量的膜层厚度从10 nm到50 um，分辨率可达1 nm。薄膜测量应用于半导体晶片生产工业，此时需要监控等离子刻蚀和沉积加工过程。还可用于需要测量在金属和玻璃基底上镀制透明膜层的领域，如金属表面的透明涂层和玻璃衬底。
随着工业的蓬勃发展，对材料本身特性的质量控制愈加严格，利用光纤光谱仪进行快速准确的透/反射光谱的测量技术也日益成熟。透/反射光谱测量是光谱测量的基本手段，通常需要使用光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等设备。对于不同种类的样品，为了获取更好的光谱数据，这两种基本模式又会演化为更多的形式。
光纤光谱仪采用光纤光路，解决了光路在仪器集成中的限制。并且莱森光学的光纤光谱仪具有体积小，稳定性高，支持软件二次开发，配件丰富等特点，已经成功的广泛应用于玻璃、高分子材料等行业的测试。莱森光学为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备，利用这些配置丰富的设备，即可搭建各种常见的光谱测量系统。
荧光物质在特定波长的辐射能量辐射下，能发射出具有一定光谱分布的辐射，且一般都是在各个方向上辐射能量的散射光。荧光光谱测量产生的荧光能量比激发光的光子能量小，只相当于激发光能量的3%左右，其灵敏度高、选择性强、样品用量少、方法简便、具备环保性。在食品加工过程中食品安全的监测、生物医学中病变的荧光诊断、地质学中石油矿物勘探、土壤矿物成分的测定以及物质中微量元素的检测等工程应用中有着广泛的应用。莱森光学光纤光谱仪采用了可更换狭缝、可选择的波长范围和分辨率设计，使客户能根据自己的需求配置自由搭配适合参数的荧光测量系统。
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